Будет проведена экскурсия в лаборатории «Диагностика поверхности», в которой абитуриентам будут продемонстрированы: растровый электронный микроскоп, атомно-силовой микроскоп, оптический микроскоп высокого разрешения, прибор МИИ-4 для измерения толщины пленок
Загрузка документов
Нажимая кнопку «OK», Вы подтверждаете, что Вы проинформированы об использовании на нашем сайте cookies (сведения о местоположении; ip-адрес; тип, язык, версия ОС и браузера; тип устройства и разрешение его экрана и др.). Отключить cookies Вы можете в настройках своего браузера.