Современная оптическая микроскопия

В лекции предполагается рассказать о современной оптической микроскопии сверхвысокого разрешения. Будет очерчено место оптических методов среди прочих средств визуализации, таких как атомно-силовая микроскопия и сканирующая электронная микроскопия, показано в чем ее достоинства и в чем недостатки. Будет дано понимание физических явлений, лежащих в основе преодоления дифракционного предела разрешения классических оптических систем, известного как критерий Рэлея, проведена параллель между критерием Рэлея и соотношением неопределенности Гайзенберга. В части лекции, посвященной практической реализации упомянутых вначале физических идей, будет рассказано о трех направлениях развития современной оптической микроскопии. Во-первых, изучим устройство ближнепольного микроскопа. Во-вторых, рассмотрим дальнепольные системы оптической визуализации со сверхразрешением. И наконец, попробуем понять каковы реальные перспективы развития микроскопии на основе метаматериалов.